bibtype J - Journal Article
ARLID 0042768
utime 20240103182909.7
mtime 20061114235959.9
title (primary) (eng) On divergences and informations in statistics and information theory
specification
page_count 19 s.
serial
ARLID cav_un_epca*0256723
ISSN 0018-9448
title IEEE Transactions on Information Theory
volume_id 52
volume 10 (2006)
page_num 4394-4412
publisher
name Institute of Electrical and Electronics Engineers
title (cze) O divergencích a informacích ve statistice a teorii informace
keyword Divergence
keyword deficiency
keyword sufficiency
keyword Shannon information
keyword Arimoto information
keyword statistical information
keyword estimation
keyword testing
author (primary)
ARLID cav_un_auth*0015549
name1 Liese
name2 F.
country DE
author
ARLID cav_un_auth*0101218
name1 Vajda
name2 Igor
institution UTIA-B
fullinstit Ústav teorie informace a automatizace AV ČR, v. v. i.
COSATI 09J
cas_special
project
project_id 1M0572
agency GA MŠk
ARLID cav_un_auth*0001814
project
project_id IAA1075403
agency GA AV ČR
ARLID cav_un_auth*0012789
research CEZ:AV0Z10750506
abstract (eng) Basic properties of f-diverrgences are proved in a new simpler manner. New relations to sufficiency and deficiency are established and new applications in estimation and testing are proposed. Statistical information of De Groot and the classical information of Shannonm are shown to be extremal cases of a newly introduced class of so-called Arimotio informations.
abstract (cze) Základní vlastnosti f-divergencí jsou dokázány novým jednodušším způsobem. Jsou ustaveny nové vztahy ke statistické suficientnosti a deficientnosti a je navrženo nové využití při odhadování a testování. De Grootova statistická informace a standardní Shannonova informace jsou předvedeny jako mezní případy nově navržené třídy tzv. Arimotových informací.
reportyear 2007
RIV BD
permalink http://hdl.handle.net/11104/0135930
arlyear 2006
mrcbU63 cav_un_epca*0256723 IEEE Transactions on Information Theory 0018-9448 1557-9654 Roč. 52 č. 10 2006 4394 4412 Institute of Electrical and Electronics Engineers