bibtype J - Journal Article
ARLID 0084538
utime 20240103184323.3
mtime 20070730235959.9
title (primary) (eng) Study of InAs quantum dots in AlGaAs/GaAs heterostructure by ballistic electron emission microscopy/spectroscopy
specification
page_count 3 s.
serial
ARLID cav_un_epca*0256166
ISSN 0003-6951
title Applied Physics Letters
volume_id 91
volume 4 (2007)
publisher
name AIP Publishing
title (cze) Studium InAs kvantových teček v AlGaAs/GaAs heterostruktuře pomocí balistické elektronové emisní mikroskopie
keyword quantum dots
keyword ballistic transport
keyword semiconductor heterojunctions
author (primary)
ARLID cav_un_auth*0101765
name1 Walachová
name2 Jarmila
institution URE-Y
share 30
fullinstit Ústav fotoniky a elektroniky AV ČR, v. v. i.
author
ARLID cav_un_auth*0101769
name1 Zelinka
name2 Jiří
institution URE-Y
share 5
fullinstit Ústav fotoniky a elektroniky AV ČR, v. v. i.
author
ARLID cav_un_auth*0101704
name1 Malina
name2 Václav
institution URE-Y
share 5
fullinstit Ústav fotoniky a elektroniky AV ČR, v. v. i.
author
ARLID cav_un_auth*0101757
name1 Vaniš
name2 Jan
institution URE-Y
full_dept Synthesis and characterization of nanomaterials
share 25
fullinstit Ústav fotoniky a elektroniky AV ČR, v. v. i.
author
ARLID cav_un_auth*0101209
name1 Šroubek
name2 Filip
institution UTIA-B
full_dept Department of Image Processing
fullinstit Ústav teorie informace a automatizace AV ČR, v. v. i.
author
ARLID cav_un_auth*0100432
name1 Pangrác
name2 Jiří
institution FZU-D
full_dept Semiconductors
fullinstit Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
author
ARLID cav_un_auth*0100384
name1 Melichar
name2 Karel
institution FZU-D
fullinstit Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
author
ARLID cav_un_auth*0100250
name1 Hulicius
name2 Eduard
institution FZU-D
full_dept Semiconductors
fullinstit Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
cas_special
project
project_id GA202/05/0242
agency GA ČR
ARLID cav_un_auth*0001744
research CEZ:AV0Z20670512
research CEZ:AV0Z10750506
research CEZ:AV0Z10100521
abstract (eng) Self assembled InAs quantum dots in GaAs/GaAlAs structures were examined by ballistic electron emission microscopy/spectroscopy. The studied structures were grown by metal-organic chemical vapor deposition. Quantum dots with an image of elliptical shape were studied. Ballistic current-voltage characteristics through the quantum dot and outside the quantum dot are compared in the voltage range of 0,55 V to 2 V. In the voltage range from 0.55 V to 0.8 V examples of ballistic characteristics and their derivatives are given.
abstract (cze) Pomocí balistické elektronové emisní mikroskopie/spektroskopie byly studovány samouspořádané InAs kvantové tečky v GaAs/GaAlAs heterostruktuře. Měřené struktury byly narosteny metalorganickou epitaxií. Byly studovány tečky s eliptickým obrazem. Jsou uvedeny příklady spektroskopických chrakteristik na a mimo kvantovou tečku v napěťovém rozsahu 0,55V až 2V. Dále jsou uvedeny příklady spektroskopických charakteristik s jejich derivacemi v napěťovém rozsahu 0,55V až 0,8V.
reportyear 2008
RIV BM
permalink http://hdl.handle.net/11104/0147275
mrcbT16-f 4.068
mrcbT16-g 0.627
mrcbT16-h 5.4
mrcbT16-i 0.71774
mrcbT16-j 1.491
mrcbT16-k 157868
mrcbT16-l 5818
arlyear 2007
mrcbU63 cav_un_epca*0256166 Applied Physics Letters 0003-6951 1077-3118 Roč. 91 č. 4 2007 042110.1 042110.3 AIP Publishing