bibtype C - Conference Paper (international conference)
ARLID 0312781
utime 20240111140706.8
mtime 20090326235959.9
WOS 000260364401253
title (primary) (eng) Efficiency of entropy testing
specification
page_count 5 s.
media_type www
serial
ARLID cav_un_epca*0311968
ISBN 978-1-4244-2256-2
title Proceedings ISIT 2008
page_num 2639-2643
publisher
place Toronto
name IEEE
year 2008
title (cze) Vydatnost entropických testů
keyword Entropy goodness of fit test
keyword Power divergence goodness of fit test
keyword Bahadur efficiency
author (primary)
ARLID cav_un_auth*0242624
name1 Harremoes
name2 P.
country NL
author
ARLID cav_un_auth*0101218
name1 Vajda
name2 Igor
institution UTIA-B
fullinstit Ústav teorie informace a automatizace AV ČR, v. v. i.
source
source_type pdf
url http://library.utia.cas.cz/separaty/2008/SI/vajda-efficiency%20of%20entropy%20testing.pdf
cas_special
project
project_id 1M0572
agency GA MŠk
ARLID cav_un_auth*0001814
project
project_id GA102/07/1131
agency GA ČR
country CZ
ARLID cav_un_auth*0228132
research CEZ:AV0Z10750506
abstract (eng) The power divergence tests of uniformity are equivalently treated as entropy tests for the power (or Renyi) etropies. The paper succeeded to exted the former results in this area by proving that the powers between 0 and 1 provide the same Bahadur efficiencz and the power 1 is more Bahadur efficient than any power exceeding 1.
abstract (cze) Testy rovnoměrnosti založené na mocninných divergencích jsou ekvivalentně posuzovány jako entropické testy odpovídající mocninným (Rényiho) divergencím. Podařilo se rozšířit predchozí výsledky v tom smyslu, že mocniny řádů mezi 0 a 1 poskytují stejnou Bahadurovu vydatnost a řád 1 je bahadurovsky vydatnější než jakýkoliv řád větší než 1.
action
ARLID cav_un_auth*0242194
name IEEE International Symposium on Information Theory 2008
place Toronto
dates 06.07.2008-11.07.2008
country CA
reportyear 2009
RIV BD
permalink http://hdl.handle.net/11104/0163755
arlyear 2008
mrcbU34 000260364401253 WOS
mrcbU56 pdf
mrcbU63 cav_un_epca*0311968 Proceedings ISIT 2008 978-1-4244-2256-2 2639 2643 Toronto IEEE 2008