| bibtype |
J -
Journal Article
|
| ARLID |
0330290 |
| utime |
20240103192153.4 |
| mtime |
20091023235959.9 |
| WOS |
000227266200007 |
| DOI |
10.1007/s10582-005-0007-0 |
| title
(primary) (eng) |
Thin film description by wavelet coefficients statistics |
| specification |
|
| serial |
| ARLID |
cav_un_epca*0256481 |
| ISSN |
0011-4626 |
| title
|
Czechoslovak Journal of Physics |
| volume_id |
55 |
| volume |
1 (2005) |
| page_num |
55-64 |
| publisher |
|
|
| title
(cze) |
Popis tenkých vrstev pomocí statistik založených na waveletových koeficientech |
| keyword |
thin films |
| keyword |
wavelet transform |
| keyword |
descriptors |
| keyword |
histogram model |
| author
(primary) |
| ARLID |
cav_un_auth*0101071 |
| name1 |
Boldyš |
| name2 |
Jiří |
| institution |
UTIA-B |
| full_dept |
Department of Image Processing |
| fullinstit |
Ústav teorie informace a automatizace AV ČR, v. v. i. |
|
| author
|
| ARLID |
cav_un_auth*0019059 |
| name1 |
Hrach |
| name2 |
R. |
| country |
CZ |
|
| source |
|
| cas_special |
| project |
| project_id |
173/2003 |
| agency |
GA UK |
| country |
CZ |
|
| research |
CEZ:AV0Z10750506 |
| abstract
(eng) |
Descriptive and robust features based on wavelet transform coefficients are proposed for a multiscale thin film image analysis. The features are based on one- and two-dimensional histograms of the wavelet transform coefficients and they can be calculated for every scale of the wavelet decomposition. A one-dimensional histogram model is extended to describe also two-dimensional histograms, by means of calculating marginal histograms and by sampling the two-dimensional histograms in orientation. A computer experiment has been performed to demonstrate correspondence of the derived features to various physical phenomena. |
| abstract
(cze) |
V publikaci jsou navrženy robustní a popisné příznaky pro multiškálovou analýzu fotografií tenkých vrstev založené na koeficientech waveletové transformace. Příznaky jsou založeny na jedno- a dvou-rozměrných histogramech koeficientů, které se mohou počítat na každé škále waveletového rozkladu. Model jednorozměrného histogramu je rozšířen pro popis histogramu dvourozměrného, prostřednictvím výpočtu marginálních histogramů a vzorkováním dvourozměrných histogramů v orientaci. Provedli jsme počítačový experiment a demonstrovali korespondenci odvozených příznaků s různými fyzikálními jevy. |
| reportyear |
2010 |
| RIV |
BD |
| permalink |
http://hdl.handle.net/11104/0005473 |
| arlyear |
2005 |
| mrcbU34 |
000227266200007 WOS |
| mrcbU63 |
cav_un_epca*0256481 Czechoslovak Journal of Physics 0011-4626 Roč. 55 č. 1 2005 55 64 Springer |
|